BS CECC 50000-1987 电子元器件用质量评估协调体系.一般规范.分立式半导体器件

作者:标准资料网时间:2024-05-10 10:21:08 浏览:8150 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Genericspecification:discretesemiconductordevices
【原文标准名称】:电子元器件用质量评估协调体系.一般规范.分立式半导体器件
【标准号】:BSCECC50000-1987
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1987-10-30
【实施或试行日期】:1987-10-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:能力鉴定;机械试验;规范(验收);资格鉴定;半导体整流器;抽样方法;电子设备及元件;加速度试验;作标记;名称与符号;试验设备;试验条件;电路;统计质量控制;认可试验;击穿电压;性能试验;环境试验;半导体闸流管;色码;电功率测量;方位;半导体器件;热试验;质量保证体系;检验;电压测量;电气试验;漏泄试验;电流测量;晶体管;耐久试验;电学测量;外观检查(试验);质量控制;电容测量;验收(鉴定);乱真信号;半导体二极管;瞬时电压;活化热
【英文主题词】:Acceleratedtesting;Acceptance(approval);Approvaltesting;Assessedquality;Breakdownvoltage;Capabilityapproval;Capacitancemeasurement;Circuits;Colourcodes;Currentmeasurement;Designations;Electricalmeasurement;Electricaltesting;Electronicequipmentandcomponents;Endurancetesting;Environmentaltesting;Heatofactivation;Inspection;Leaktests;Marking;Mechanicaltesting;Noise(spurioussignals);Orientation;Performancetesting;Powermeasurement(electric);Qualificationapproval;Qualityassurancesystems;Qualitycontrol;Samplingmethods;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;Semiconductorrectifiers;Specification(approval);Statisticalqualitycontrol;Testequipment;Testingconditions;Thermaltesting;Thyristors;Transientvoltages;Transistors;Visualinspection(testing);Voltagemeasurement
【摘要】:Appliestodiodes,transistors,rectifierdiodesandthyristors.Specifiesqualityassessmentandtestandmeasurementconditions.Appendicesonstructuralsimilarity,inspectionrequirements,testsandscreening.
【中国标准分类号】:L40;L00
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:154P.;A4
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: IEC 60839-2-3-1987 报警系统第2部分:入侵者报警系统的要求第3节:建筑物内红外线束遮断探测器的要求
下一篇: BS 4267-3-1987 硝酸铵.第3部分:pH值测定方法

标准名称：	设备及管道油漆维护检修规程(试行)
中标分类：	化工 >> 化工机械与设备 >> 化工设备
替代情况：	被SHS 01034-2004代替
发布日期：
实施日期：	1992-11-09
首发日期：
作废日期：	2004-06-21
出版日期：
页数：	14页